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「液態前驅物氧化物ALD技術」公開徵求技術移轉徵選廠商

一、簡介

因應半導體元件尺寸縮小與性能要求,鍍膜製的厚度均勻性與薄膜品質需求越來越高,高深寬比結構均勻鍍膜更是元件尺寸 scale-down 的關鍵。原子層沉積技術 (Atomic Layer Deposition, ALD) 係利用反應氣體與基板之間氣-固相反應,故薄膜厚度控制可以達到原子等級,且薄膜均勻性極佳;由於 ALD 技術具有低製程溫度特性,所以亦可應用於塑膠或有機材料鍍膜。

二、技術說明

本技術對應關係如下圖所示,並可分為以下幾點說明:

  1. ALD 反應腔體設計:腔體設計概念、基板載座設計、腔體加熱、氣體噴嘴設計、抽氣管路設計、幫浦選擇概念。
  2. 液態前驅物選擇與容器設計:液態前驅物為薄膜物質來源 (如氧、鋁、鎵與鋅等),液態前驅物定義範圍:在 70 °C 以下,前驅物之蒸氣壓大於 1 Torr。前驅物容器是用以乘載前驅物並提供足夠蒸氣注入反應腔體之管路。
  3. ALD 氣體管路設計:前驅物蒸氣注入反應腔體之管路、進行不同前驅物切換注入之管路設計、洗滌與稀釋前驅物蒸氣之管路設計、乘載氣體流量調節設計、管路加熱設計、氣體切換管理設計。

系統概念圖

三、技術應用範圍

  1. 高介電係數氧化物薄膜與絕緣材料製備。
  2. 塑膠與有機基板低溫度鍍膜。
  3. 奈米材料表面鍍膜。

四、廠商資格

五、聯絡窗口

有關本中心技術移轉相關規定與資料請參見儀器技術移轉