|
第一章 |
光學系統簡介 |
1 |
| 1.1 |
|
前言 |
1 |
| 1.2 |
|
高斯光學 |
2 |
| |
1.2.1 光學系統中的主平面值 |
3 |
| |
1.2.2 範例介紹 |
6 |
| 1.3 |
|
輻射度學和光度學 |
7 |
| |
1.3.1 朗伯發光源的光出射度 |
9 |
| |
1.3.2 鏡頭光通量的收集量 |
9 |
| |
1.3.3 鏡頭像面上的照度 |
10 |
| |
1.3.4 物空間和像空間的亮度關係 |
11 |
| |
1.3.5 光學系統中的光照度 |
11 |
| |
1.3.6 範例介紹 |
12 |
| 1.4 |
|
目視光學系統 |
14 |
| |
1.4.1 眼鏡的分辨率 |
14 |
| |
1.4.2 望遠系統 |
14 |
| |
1.4.3 顯微鏡 |
16 |
| |
1.4.4 雙目鏡 |
17 |
| |
1.4.5 目視儀器的設計要求 |
18 |
| 1.5 |
|
投影系統 |
19 |
| |
1.5.1 單片式投影機 |
19 |
| |
1.5.2 三片式 LCD 投影機 |
19 |
| |
1.5.3 DLP 投影機 |
20 |
| |
1.5.4 LCOS 投影機 |
21 |
| |
1.5.5 以半導體元件為光源的投影機 |
21 |
| 1.6 |
|
數位成像系統 |
23 |
| 1.7 |
|
變焦系統 |
24 |
| |
1.7.1 兩鏡組式變倍系統 |
25 |
| |
1.7.2 三鏡組式變倍系統 |
26 |
| 1.8 |
|
特殊光學系統 |
28 |
| |
1.8.1 紅外線系統 |
28 |
| |
1.8.2 Fθ 鏡頭 |
29 |
| |
1.8.3 傅利葉轉換鏡頭 |
30 |
| |
1.8.4 高功率半導體雷射系統 |
31 |
| 1.9 |
|
結論 |
32 |
| • |
|
參考文獻 |
32 |
|
第二章 |
基礎光學設計 |
33 |
| 2.1 |
|
鏡組初階設計 |
33 |
| |
2.1.1 近軸光線追跡 |
34 |
| |
2.1.2 符號定義 |
34 |
| |
2.1.3 近軸光線追跡公式 |
34 |
| |
2.1.4 有效焦距與後焦距 |
35 |
| |
2.1.5 入瞳和出瞳之位置與大小 |
35 |
| |
2.1.6 範例 |
37 |
| 2.2 |
|
波面像差 |
40 |
| |
2.2.1 波面像差的函數理論 |
40 |
| |
2.2.2 光點像差與波面像差間的關係 |
42 |
| |
2.2.3 像面縱向位移對像差值的影響 |
43 |
| |
2.2.4 賽德像差公式的推導 |
44 |
| |
2.2.5 波面色像差 |
49 |
| |
2.2.6 賽德像差公式 |
51 |
| |
2.2.7 範例 |
52 |
2.3 |
|
商用設計軟體功能介紹 |
55 |
| 2.4 |
|
品質評估 |
61 |
| |
2.4.1 解析度 |
61 |
| |
2.4.2 光線追蹤與像差 |
62 |
| |
2.4.3 光線追蹤曲線 |
62 |
| |
2.4.4 離焦 |
64 |
| |
2.4.5 球面像差 |
64 |
| |
2.4.6 彗差 |
65 |
| |
2.4.7 像散 |
66 |
| |
2.4.8 色差 |
66 |
| |
2.4.9 畸變 |
67 |
| |
2.4.10 光程差 |
67 |
| |
2.4.11 光斑圖 |
69 |
| |
2.4.12 點擴散函數與徑向能量分布 |
69 |
| |
2.4.13 調制轉函數 |
71 |
| 2.5 |
|
容差分析 |
75 |
| |
2.5.1 容忍度分析 |
75 |
| |
2.5.2 統計概念 |
76 |
| |
2.5.3 容差分析的方法與流程 |
80 |
| • |
|
參考文獻 |
83 |
|
第三章 |
光學材料特性介紹 |
85 |
| 3.1 |
|
簡介 |
85 |
| 3.2 |
|
常用的玻璃及陶瓷材料特性 |
86 |
| |
3.2.1 常用的玻璃材料特性 |
86 |
| |
3.2.2 常用的陶瓷材料特性 |
91 |
| 3.3 |
|
常用的塑膠材料特性 |
92 |
| |
3.3.1 光學塑膠概論 |
93 |
| |
3.3.2 光學塑膠的特性 |
95 |
| |
3.3.3 光學塑膠的種類與應用 |
97 |
| |
3.3.4 光學塑膠的未來發展 |
100 |
| 3.4 |
|
常用的金屬材料特性 |
102 |
| 3.5 |
|
常用的晶體材料特性 |
107 |
| |
3.5.1 光學晶體材料 |
107 |
| |
3.5.2 非線性光學晶體材料 |
110 |
| |
3.5.3 人造寶石晶體材料 |
113 |
| • |
|
參考文獻 |
115 |
|
第四章 |
國際光學元件製圖標準 |
117 |
| 4.1 |
|
ISO10110 光學製圖標準 |
118 |
| |
4.1.1 ISO 10110-1 一般原則 |
119 |
| |
4.1.2 ISO 10110-2 材料缺陷-應力雙折射 |
125 |
| |
4.1.3 ISO 10110-3 材料缺陷-氣泡與雜質 |
127 |
| |
4.1.4 ISO 10110-4 材料缺陷-非均勻度與脈紋 |
128 |
| |
4.1.5 ISO 10110-5 表面形狀誤差 |
129 |
| |
4.1.6 ISO 10110-6 偏心誤差 |
131 |
| |
4.1.7 ISO 10110-7 表面缺陷誤差 |
133 |
| |
4.1.8 ISO 10110-8 表面紋理 |
134 |
| |
4.1.9 ISO 10110-9 表面處理與鍍膜 |
136 |
| |
4.1.10 ISO 10110-10 光學元件圖面說明 |
136 |
| |
4.1.11 ISO 10110-11 未標註公差規格 |
138 |
| |
4.1.12 ISO 10110-12 非球面圖面標註 |
139 |
| |
4.1.13 ISO 10110-14 波前變形誤差 |
140 |
| |
4.1.14 ISO 10110-17 雷射發光起損值 |
142 |
| 4.2 |
|
英國光學製圖標準 |
143 |
| |
4.2.1 一般製圖標註 |
143 |
| |
4.2.2 尺寸與公差標註 |
147 |
| |
4.2.3 材質與外形精度標註規範 |
148 |
| • |
|
參考文獻 |
154 |
|
第五章 |
傳統光學元件加工 |
157 |
| 5.1 |
|
球面透鏡加工 |
157 |
| |
5.1.1 切割 |
157 |
| |
5.1.2 圓整 |
158 |
| |
5.1.3 成形 |
160 |
| |
5.1.4 研磨 |
165 |
| |
5.1.5 拋光 |
173 |
| |
5.1.6 定心 |
177 |
| |
5.1.7 清潔 |
180 |
| |
5.1.8 膠合 |
182 |
| 5.2 |
|
稜鏡加工 |
183 |
| |
5.2.1 傳統稜鏡製作技術 |
183 |
| |
5.2.2 先進稜鏡製作技術 |
185 |
| 5.3 |
|
特殊元件加工 |
85 |
| |
5.3.1 平行平面鏡 |
186 |
| |
5.3.2 圓柱面鏡 |
187 |
| |
5.3.3 拋物面鏡與非球面鏡 |
188 |
| 5.4 |
|
光學元件清洗與存放 |
189 |
| |
5.4.1 污染物 |
190 |
| |
5.4.2 清潔試液 |
191 |
| |
5.4.3 玻璃鏡片潔淨方式 |
192 |
| |
5.4.4 鏡片之存放 |
193 |
| • |
|
參考文獻 |
194 |
|
第六章 |
超精密加工 |
195 |
| 6.1 |
|
概論 |
195 |
| 6.2 |
|
精密加工之基本要求及影響加工精度之因素 |
196 |
| 6.3 |
|
超精密加工法的分類 |
199 |
| 6.4 |
|
單點鑽石切削 |
201 |
| |
6.4.1 簡介 |
201 |
| |
6.4.2 鑽石車刀 |
201 |
| |
6.4.3 影響 SPDT 加工工件形狀精度之因素 |
203 |
| |
6.4.4 影響工件表面粗糙度之因素 |
206 |
| |
6.4.5 鑽石車削之發展現況 |
207 |
| 6.5 |
|
磨粒加工技術 |
211 |
| |
6.5.1 磨粒加工的定義與特性 |
211 |
| |
6.5.2 磨削與拋光加工的特點 |
212 |
| |
6.5.3 砂輪的特性 |
213 |
| |
6.5.4 磨削機構之幾何學 |
216 |
| |
6.5.5 化學機械拋光 |
218 |
| • |
|
參考文獻 |
220 |
|
第七章 |
玻璃光學元件模造成形 |
223 |
| 7.1 |
|
前言 |
223 |
| 7.2 |
|
玻璃模造技術之進展 |
225 |
| |
7.2.1 一模多穴單站式玻璃模造機 |
227 |
| |
7.2.2 一模一穴連續式玻璃模造機 |
228 |
| 7.3 |
|
模造製程控制參數對玻璃鏡片精度之影響 |
230 |
| 7.4 |
|
影響陶瓷模仁壽命的因素 |
233 |
| |
7.4.1 模造玻璃材料 |
233 |
| |
7.4.2 模仁材料 |
234 |
| |
7.4.3 模仁形狀 |
235 |
| |
7.4.4 製程參數 |
235 |
| 7.5 |
|
改善陶瓷模仁壽命的方法 |
236 |
| |
7.5.1 玻璃模造模仁表面鍍膜技術之發展 |
237 |
| |
7.5.2 低摩擦且低磨損的模仁表面鍍膜設計原理 |
238 |
| |
7.5.3 模具表面鍍膜方法之選擇 |
241 |
| 7.6 |
|
結論 |
243 |
| • |
|
參考文獻 |
243 |
|
第八章 |
塑膠光學元件加工 |
245 |
| 8.1 |
|
射出成形 |
245 |
| |
8.1.1 製程簡介 |
245 |
| |
8.1.2 微射出成形 |
247 |
| |
8.1.3 微射出壓縮成形 |
248 |
| |
8.1.4 常用之光學塑膠材料 |
249 |
| 8.2 |
|
熱壓成形 |
251 |
| |
8.2.1 製程簡介 |
251 |
| |
8.2.2 微熱壓成形材料 |
252 |
| |
8.2.3 製程參數對光學元件的品質影響 |
253 |
| |
8.2.5 微熱壓成形衍生方法 |
254 |
| 8.3 |
|
表面處理及保護 |
257 |
| |
8.3.1 塗層與沉積 |
257 |
| |
8.3.2 鍍膜 |
258 |
| 8.4 |
|
應用範例 |
259 |
| |
8.4.1 導光板 |
259 |
| |
8.4.2 微射出壓縮成形對二吋導光板微結構品質的影響 |
264 |
| |
8.4.3 微透鏡陣列 |
269 |
| |
8.4.4 其他光學元件 |
272 |
• |
|
參考文獻 |
273 |
|
第九章 |
光學鍍膜 |
275 |
| 9.1 |
|
引言 |
275 |
| 9.2 |
|
重要的玻璃光學薄膜 |
276 |
| |
9.2.1 抗反射膜 |
277 |
| |
9.2.2 高反射膜 |
279 |
| |
9.2.3 冷光鏡 |
282 |
| |
9.2.4 UV-IR 截止濾光片 |
284 |
| |
9.2.5 彩色濾光片 |
284 |
| |
9.2.6 偏振光分光鏡 |
286 |
| |
9.2.7 DWDM 濾光片 |
287 |
| 9.3 |
|
玻璃光學薄膜的製鍍方法 |
290 |
| |
9.3.1 熱蒸發蒸鍍法 |
291 |
| |
9.3.2 電漿濺鍍法 |
295 |
| |
9.3.3 離子束濺鍍法 |
298 |
| 9.4 |
|
塑膠鍍膜 |
303 |
| |
9.4.1 塑膠鍍膜例子 |
305 |
| |
9.4.2 塑膠鍍膜之製鍍 |
307 |
| • |
|
參考文獻 |
309 |
|
第十章 |
材料缺陷檢測 |
311 |
| 10.1 |
|
表面刮痕與刺孔 |
312 |
| 10.2 |
|
氣泡 |
312 |
| 10.3 |
|
脈紋 |
314 |
| 10.4 |
|
不均勻度 |
316 |
| 10.5 |
|
應力雙折射效應 |
317 |
| • |
|
參考文獻 |
320 |
|
第十一章 |
加工精度檢測 |
321 |
| 11.1 |
|
形狀精度 |
321 |
| |
11.1.1 白光干涉式表面輪廓儀 |
321 |
| |
11.1.2 雷射干涉式探針量測輪廓儀 |
322 |
| 11.2 |
|
表面粗糙度 |
325 |
| |
11.2.1 表面粗糙度相關名詞 |
326 |
| |
11.2.2 表面粗糙度表示方法與定義 |
330 |
| |
11.2.3 表面粗糙度量測方法 |
334 |
| |
11.2.4 表面粗糙度表示法 |
340 |
| 11.3 |
|
偏心 |
344 |
| 11.4 |
|
平行度 |
347 |
| 11.5 |
|
角度 |
348 |
| 11.6 |
|
折射率與色散率 |
350 |
| 11.7 |
|
波前精度 |
353 |
| • |
|
參考文獻 |
354 |
|
第十二章 |
組件品質檢測 |
355 |
| 12.1 |
|
有效焦距測量 |
355 |
| |
12.1.1 直接測量後主點至焦點的距離 |
355 |
| |
12.1.2 放大率法 |
356 |
| |
12.1.3 後焦長量測 |
357 |
| 12.2 |
|
聚焦透鏡與光學讀寫頭成像點量測 |
358 |
| 12.3 |
|
擴散片的散射特性量測 |
361 |
| |
12.3.1 擴散片 |
361 |
| |
12.3.2 擴散特性 |
362 |
| |
12.3.3 散射儀 |
362 |
| 12.4 |
|
離軸非球面反射鏡參數檢測 |
364 |
| |
12.4.1 離軸反射鏡規格及參數定義 |
364 |
| |
12.4.2 離軸反射鏡參數檢測 |
366 |
| 12.5 |
|
極化光量測與偏極化元件檢測應用 |
368 |
| |
12.5.1 極化光 |
368 |
| |
12.5.2 起偏器 |
369 |
| |
12.5.3 雙折射晶體與相位延遲器 |
371 |
| |
12.5.4 偏極量測 |
372 |
| 12.6 |
|
回反射器精度檢測 |
374 |
| 12.7 |
|
繞射光柵特性參數檢測 |
381 |
| |
12.7.1 繞射效率的檢測方式 |
382 |
| |
12.7.2 平面光柵的檢測 |
383 |
| |
12.7.3 凹面光柵的檢測 |
385 |
| • |
|
參考文獻 |
386 |
|
第十三章 |
薄膜品質檢測 |
387 |
| 13.1 |
|
穿透率、反射率、散射、吸收率 |
387 |
| |
13.1.1 UV/Vis/NIR 分光光譜儀 |
389 |
| |
13.1.2 穿透率 |
390 |
| |
13.1.3 反射率 |
391 |
| |
13.1.4 散射 |
393 |
| |
13.1.5 吸收率 |
394 |
| 13.2 |
|
折射率與消光係數 |
397 |
| |
13.2.1 橢圓偏光儀 |
397 |
| |
13.2.2 光譜儀 (包絡法) |
406 |
| |
13.2.3 全反射衰減 (ATR) 儀 |
411 |
| 13.3 |
|
厚度 |
416 |
| |
13.3.1 探針法 |
417 |
| |
13.3.2 X 射線螢光法 |
419 |
| |
13.3.3 反射光譜法 |
420 |
| 13.4 |
|
堆積密度與水氣吸收率 |
422 |
| |
13.4.1 堆積密度的定義 |
424 |
| |
13.4.2 水氣吸收的影響 |
424 |
| |
13.4.3 薄膜堆積密度的提高 |
429 |
| 13.5 |
|
顯微結構分析 |
429 |
| |
13.5.1 穿透式電子顯微鏡 |
430 |
| |
13.5.2 掃描式電子顯微鏡 |
440 |
| 13.6 |
|
薄膜粗糙度 |
441 |
| 13.7 |
|
結晶性與應力 |
445
|
| |
13.7.1 X 光繞射法 |
445 |
| |
13.7.2 機械式懸臂法 |
448 |
| |
13.7.3 干涉式牛頓環法 |
449 |
| 13.8 |
|
薄膜應力與熱膨脹係數 |
450 |
| |
13.8.1 前言 |
450 |
| |
13.8.2 原理 |
450 |
| |
13.8.3 量測方法 |
453 |
| 13.9 |
|
成分分析 |
457 |
| |
13.9.1 能量散布光譜儀 |
458 |
| |
13.9.2 X 光光電子能譜儀 (XPS) |
461 |
| 13.10 |
|
薄膜硬度與附著性量測 |
464 |
| |
13.10.1 薄膜硬度測試 |
464 |
| |
13.10.2 薄膜附著性測試 |
467 |
| 13.11 |
|
光學薄膜環境測試 |
472 |
| |
13.11.1 機械穩定性測試 |
473 |
| |
13.11.2 溫度與熱循環之影響 |
475 |
| |
13.11.3 化學穩定性 |
476 |
| |
13.11.4 特殊應用之其他耐久測試 |
476 |
| 13.12 |
|
薄膜電阻 |
478 |
| |
13.12.1 電阻率定義 |
479 |
| |
13.12.2 四點探針儀 |
480 |
| |
13.12.3 任意形狀試片電阻量測 |
481 |
| |
13.12.4 霍爾效應量測系統 |
482 |
| |
13.12.5 展阻量測 |
484 |
| |
13.12.6 導電式原子力顯微鏡術 |
484 |
| |
13.12.7 非接觸電阻率量測 |
485 |
| 13.13 |
|
雷射破壞 |
486 |
| |
13.13.1 雷射破壞的機制 |
486 |
| |
13.13.2 雷射破壞的量測 |
487 |
| • |
|
參考文獻 |
489 |
|
第十四章 |
非球面檢測 |
497 |
| 14.1 |
|
接觸式輪廓儀法 |
498 |
| 14.2 |
|
光學式輪廓儀法 |
500 |
| 14.3 |
|
電腦全像干涉法 |
502 |
| 14.4 |
|
剪切式干涉法 |
505 |
| 14.5 |
|
補償鏡法 |
506 |
| 14.6 |
|
非干涉量測法 |
509 |
| • |
|
參考文獻 |
511 |
|
第十五章 |
絕對量測 |
513 |
| 15.1 |
|
絕對平面量測 |
513 |
| 15.2 |
|
絕對球面量測 |
516 |
| 15.3 |
|
絕對表面粗糙度量測 |
520 |
| 15.4 |
|
絕對非球面量測 |
521 |
| • |
|
參考文獻 |
524 |
|
第十六章 |
商品實例介紹 |
525 |
| 16.1 |
|
投影顯示技術 |
525 |
| |
16.1.1 原理介紹 |
525 |
| |
16.1.2 光機引擎光學零組件 |
531 |
| |
16.1.3 LCD 光機引擎技術分析 |
540 |
| |
16.1.4 LCOS 光機引擎技術分析 |
543 |
| |
16.1.5 DLP 光機引擎技術分析 |
548 |
| |
16.1.6 結語 |
553 |
| 16.2 |
|
LED 光源迷你投影機 |
553 |
| |
16.2.1 產品發展現況 |
553 |
| |
16.2.2 高亮度發光二極體光源 |
558 |
| |
16.2.3 未來展望 |
559 |
| 16.3 |
|
相機手機鏡頭技術 |
560 |
| |
16.3.1 相機手機獨領風騷 |
560 |
| |
16.3.2 影像感測元件的技術趨勢 |
561 |
| |
16.3.3 相機手機的基本規格 |
563 |
| |
16.3.4 高階相機手機為未來趨勢 |
565 |
| |
16.3.5 相機手機的發展瓶頸 |
568 |
| |
16.3.6 遠景及未來展望 |
570 |
| 16.4 |
|
數位攝錄影機之變焦鏡頭 |
571 |
| |
16.4.1 數位攝錄影機與數位相機變焦鏡頭的差異 |
574 |
| |
16.4.2 發展回顧 |
576 |
| |
16.4.3 商品實例介紹 |
579 |
| |
16.4.4 產業遠景及發展 |
582 |
| 16.5 |
|
HD-DVD 讀取物鏡 |
583 |
| |
16.5.1 光學設計技術 |
584 |
| |
16.5.2 製程技術 |
586 |
| |
16.5.3 超精密加工技術車削 HD-DVD 讀寫頭之物鏡 |
586 |
| |
16.5.4 藍光讀取頭物鏡射出成形技術 |
592 |
| |
16.5.5 結論 |
593 |
| 16.6 |
|
人眼視光學系統的檢測技術 |
593 |
| |
16.6.1 Landolt 測試圖樣 |
594 |
| |
16.6.2 波前前導儀 |
595 |
| 16.7 |
|
立體 (3D) 顯示技術 |
599 |
| |
16.7.1 前言 |
599 |
| |
16.7.2 發展現況 |
601 |
| |
16.7.3 百家爭鳴的技術現況 |
604 |
| |
16.7.4 未來展望 |
612 |
| 16.8 |
|
LED 背光模組技術 |
612 |
| |
16.8.1 LED 光源特性及優勢 |
613 |
| |
16.8.2 LED 背光系統技術 |
614 |
| |
16.8.3 技術問題及解決方案 |
617 |
| |
16.8.4 產業契機 |
618 |
| • |
|
參考文獻 |
619 |
|
第十七章 |
遠景及未來發展 |
621 |
| 17.1 |
|
負折射率光學元件 |
621 |
| |
17.1.1 實驗與分析 |
622 |
| |
17.1.2 結論及建議 |
630 |
| 17.2 |
|
自我複製式光子晶體 |
630 |
| |
17.2.1 光子晶體簡介 |
631 |
| |
17.2.2 自我複製式光子晶體 |
636 |
| |
17.2.3 製作方法 |
639 |
| |
17.2.4 應用範例 |
640 |
| |
17.2.5 結論 |
642 |
| 17.3 |
|
微光學元件 |
642 |
| |
17.3.1 製造技術 |
643 |
| |
17.3.2 應用趨勢 |
651 |
| |
17.3.3 結論 |
655 |
| 17.4 |
|
結語 |
656 |
| • |
|
參考文獻 |
657 |
| 中文名詞索引 |
659 |
| 英文名詞索引 |
665 |