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儀器中文名稱 白光干涉式表面輪廓儀 |
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| 儀器英文名稱 zygo | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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儀器廠牌 zygo |
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儀器型號 NEW VIEW 5000 |
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儀器簡介 本檢測系統係利用白光干涉理論為基礎進行表面輪廓測量。運用干涉儀可以量測被測波面(test wavefront)與參考波面(reference wavefront)間的相位差。若參考波面由標準平面反射產生,而被側波面由帶有高低起伏的待測面反射產生,則被測波面與參考波面間的相位差就是反映此待測物的表面輪廓,在本系統的光路中引入相移技術(phase-shifting technique)來求得上述的相位差,利用相位重建技術(phase unwrapping techniqur)來恢復重建連續分布的相位,進而推算出三維的表面輪廓結構。 本系統適用於表面有高低起伏的輪廓結構與其表面粗糙度測量,可應用於反射式與穿透式材料。
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儀器主要規格 垂直方向解析度0.1nm 水平方向解析度0.45~11.8um |
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收費標準與規定 一小時2000元,外加一張圖200元
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